Synopsys汽车电子测试解决方案 — ISO 26262认证
Synopsys汽车电子测试解决方案 — ISO 26262认证
会议: SNUG Penang 2017
作者: Eric Lim, Synopsys
页数: 37
源文件: SNUG_TPC_General_Automotive_Automotive_Test_Solution_paper.pdf
概述
本演示介绍Synopsys面向汽车电子的端到端测试解决方案，该方案已通过ISO 26262 道路车辆功能安全认证。汽车IC面临高复杂度、快速周转时间、低成本和超高可靠性（超低DPPM 缺陷百万分率）的测试挑战。
目录
1. 汽车IC测试挑战 2. Synopsys汽车测试解决方案架构 3. SpyGlass DFT ADV — 可测试性分析 4. DFTMAX Ultra — 引脚受限压缩 5. DFTMAX LogicBIST — 逻辑内建自测试 6. STAR Memory System — 存储器内建自测试 7. STAR Hierarchical System — SoC测试集成 8. TetraMAX — 汽车ATPG与高级故障模型 9. Z01X — 故障仿真 10. ISO 26262认证详情
1. 汽车IC测试挑战
汽车IC面临独特的测试要求： - 高复杂度：多核SoC，混合信号设计 - 快速周转时间：紧迫的上市时间 - 低成本：更少测试引脚，更高压缩 - 安全关键测试：系统内测试和上电自测试 - 最高质量：超低DPPM（目标0 DPPM） - 可预测质量：高度可测试的设计
2. Synopsys汽车测试解决方案架构
Synopsys汽车测试解决方案覆盖完整的DFT流程：
| 阶段 | 工具 |
| 可测试性分析 | SpyGlass DFT ADV |
| SoC测试集成 | STAR Hierarchical System |
| 引脚受限压缩 | DFTMAX Ultra (ISO 26262认证) |
| 内建自测试 | DFTMAX LogicBIST, STAR Memory System |
| 高级故障模型 | TetraMAX Automotive ATPG |
| 故障仿真 | Z01X |
3. SpyGlass DFT ADV — 可测试性分析
- 在SoC组装时验证DFT连接 - 确保RTL扫描就绪并加速DFT时间 - 确定RTL设计是否达到故障覆盖率目标 - 发现难以测试的区域以减少向量数和测试成本 - 支持测试点插入以改善覆盖率 - ATPG覆盖率估计（例如：Block 1=95.5%, Block 2=...）
4. DFTMAX Ultra — 引脚受限压缩
- ISO 26262认证 - 超高压缩比，最小化测试引脚数 - 支持X-tolerant压缩 - 减少测试时间和测试数据量
5. DFTMAX LogicBIST — 逻辑内建自测试
- 支持系统内测试和上电自测试 - 满足功能安全要求的LBIST - 减少对外部ATE的依赖
6. STAR Memory System
- DesignWare STAR Memory System提供存储器BIST - 支持多种存储器类型 - 与STAR Hierarchical System集成 - 存储器修复和诊断能力
7. STAR Hierarchical System — SoC测试集成
- 层次化测试集成 - 自动化测试调度 - 支持混合信号设计的DFT
8. TetraMAX — 汽车ATPG
- 高级故障模型（Stuck-At, Transition, Path Delay, Bridging, Cell-Aware等） - 优化的汽车ATPG流程 - 高覆盖率向量生成 - 诊断能力用于良率分析
9. Z01X — 故障仿真
- 高速故障仿真 - 支持功能安全的故障注入 - ISO 26262要求的故障覆盖率验证
10. ISO 26262认证
Synopsys测试工具已通过ISO 26262认证，提供： - 认证的工具链用于安全关键设计 - 可追溯的文档 - 符合ASIL等级要求
关键要点
1. Synopsys提供完整的汽车电子测试解决方案 2. 工具链已通过ISO 26262功能安全认证 3. 覆盖从RTL可测试性分析到生产测试的全流程 4. 支持超低DPPM目标（汽车级质量） 5. 高压缩比减少测试引脚和测试成本 6. LBIST和MBIST支持系统内自测试 7. 高级故障模型满足汽车可靠性的严格要求
图片索引
本文共727张图片（PPT演示文稿），存放于 SNUG_TPC_General_Automotive_Automotive_Test_Solution_paper_images/ 目录。
第1页: 标题页 — Synopsys Automotive Test ISO 26262-Certified Solution 第2页: 汽车IC测试挑战 第3-4页: Synopsys汽车测试解决方案架构 第5-9页: SpyGlass DFT ADV可测试性分析 第10-15页: DFTMAX Ultra引脚受限压缩 第16-20页: DFTMAX LogicBIST 第21-25页: STAR Memory System 第26-28页: STAR Hierarchical System 第29-32页: TetraMAX汽车ATPG 第33-35页: Z01X故障仿真 第36页: ISO 26262认证总结 第37页: 结束页