面向汽车应用的LogicBIST技术

SNUG Austin 2017 2017 17 页

面向汽车应用的LogicBIST技术

会议: SNUG Austin, September 2017 作者: Harris Liu (Synopsys) 页数: 17 (PPT演示文稿) 源文件: SNUG_TPC_General_Gobok_2017_Synopsys_Inc_paper.pdf

议程 (Agenda)

- 背景 (Background) - DFTMAX LogicBIST - 案例经验分享 (Case Experience Sharing) - 总结 (Summary)

背景 (Background)

行业挑战

近年来，全球汽车电子产量显著增长。为进入主要汽车供应链，通过ACE-Q100和ISO 26262 道路车辆功能安全认证是必需的。汽车应用涵盖： - ABS（防抱死制动系统） - 行人检测 (Pedestrian Detection) - 交通标志识别 (Traffic Sign Recognition) - 安全气囊 (Air Bags) - 后方交叉交通检测 (Rear Cross-Traffic Detection)

汽车测试需求

- 高可靠性：零缺陷目标（ZERO DPPM） - ISO 26262 道路车辆功能安全要求的ASIL 汽车安全完整性等级B/D合规 - 全过程测试覆盖：制造测试、上电自检（POST）、在线自检（IST） - 高故障覆盖率：满足SPFM、LFM和PMHF指标

DFTMAX LogicBIST

什么是LogicBIST？

LogicBIST 逻辑内建自测试是一种DFT 可测试性设计技术，在芯片内部集成测试模式生成器和响应分析器，使芯片能够自我测试。

DFTMAX LogicBIST特性

1. 片上测试模式生成：伪随机模式生成器（PRPG） 2. 片上响应压缩：多输入签名寄存器（MISR） 3. 多测试模式支持： - Stuck-at故障测试 - Transition故障测试（at-speed） - 随机电阻故障覆盖 4. 低功耗LogicBIST：自动插入门控逻辑，限制测试活动因子 5. 层次化LogicBIST：支持自底向上的层次化测试 6. 诊断能力：支持故障定位

汽车应用优势

- 无需昂贵的外部自动测试设备(ATE) - 支持系统内在线测试（In-System Test） - 满足ISO 26262 道路车辆功能安全对自检能力的要求 - 低引脚数，简化封装设计 - 可编程测试长度与覆盖率权衡

案例经验分享

通过实际汽车芯片项目展示DFTMAX LogicBIST的应用经验： - 故障覆盖率分析：Stuck-at覆盖率 > 99%，Transition覆盖率 > 90% - 面积开销：< 5% - 测试时间：满足目标周期 - 与ISO 26262 道路车辆功能安全安全机制协同工作

总结

LogicBIST 逻辑内建自测试是满足汽车应用高可靠性要求和ISO 26262 道路车辆功能安全认证的关键技术。DFTMAX LogicBIST提供完整的片上自测试解决方案，支持制造测试和在线自检，帮助汽车芯片快速达到功能安全合规。

图片索引

本文为PPT演示文稿，共17页，97张图片，存放于_images/目录。