使用 Synopsys OCC 实现标准单元和 IP 的可靠硅鉴定

使用 Synopsys OCC 实现标准单元和 IP 的可靠硅鉴定

会议: SNUG 2016 Santa Clara 作者: Kapil Juneja, Rajesh Kumar Immadi, Balwant Singh (STMicroelectronics); Presenter: Eric Picollet 页数: 19

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1. 问题陈述与动机

OCC (On-Chip Clock Controller) 是硅鉴定的关键组件，特别是用于： - 标准单元库的表征和验证 - IP 模块的 at-speed 测试 - 工艺鉴定

OCC 需要提供精确的时钟脉冲，支持各种测试模式，包括 at-speed 跳变测试和路径延迟测试。

2. IP 鉴定测试结构

- OCC 架构：支持多时钟域、可编程时钟周期和脉冲宽度 - 与 DFTMAX 扫描压缩的集成 - 支持多种测试模式：Launch-on-Capture (LOC), Launch-on-Shift (LOS) - 可编程时钟分频器

3. 测试流程

1. 设计集成 OCC 和 DFT 结构 2. DFT 插入（DFTMAX 扫描压缩 + OCC） 3. TetraMAX ATPG 生成 at-speed 测试向量 4. 门级仿真验证 5. 硅片测试和鉴定

4. 结果与分析

STMicroelectronics 多个测试芯片的结果： - 标准单元库的成功表征 - 准确的 at-speed 时序测量 - 与 SPICE 仿真的良好相关性 - 支持多 IP 模块的并行鉴定

5. 结论

Synopsys OCC 为硅鉴定提供了强大、灵活的框架，实现标准单元和 IP 的精确 at-speed 测试。与 DFTMAX 和 TetraMAX 的紧密集成简化了从实现到硅测试的流程。

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