使用 Synopsys OCC 进行标准单元和 IP 的可靠硅验证

使用 Synopsys OCC 进行标准单元和 IP 的可靠硅验证

会议: SNUG DFT 专题 作者: Kapil Juneja, Rajesh Kumar Immadi, Balwant Singh, STMicroelectronics, Greater Noida, India 页数: 15

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摘要

随着工艺节点的不断缩小，标准单元 Standard Cell 和 IP 的硅验证（Silicon Qualification）变得越来越重要。片上时钟控制器（片上时钟控制器 OCC，On-Chip Clock Controller）是At-Speed测试中的关键组件，它通过生成高速测试时钟来确保芯片能在目标频率下正常运行，从而检测出与延迟相关的缺陷。

本文介绍了 STMicroelectronics 使用 Synopsys OCC 进行标准单元和 IP 可靠硅验证的方法。通过 OCC，可以在无需昂贵外部高速测试仪的情况下进行全速结构测试，使得对标准单元库和 IP 的全面硅验证成为可能。

本文涵盖了：(1) OCC 架构和工作原理；(2) 使用 DFT Compiler 插入 OCC 的流程；(3) 全速测试向量的生成和验证策略；(4) 在标准单元特征化和 IP 验证中的应用案例；(5) 硅结果数据，展示了使用 OCC 进行全速测试对提高缺陷覆盖率的关键作用。

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图片索引

共 10 张图片，存放于 _images/ 目录。涵盖 OCC 架构图、DFT 插入流程、测试向量生成流程图、硅验证结果图表等。