使用共享Wrapper减少MBIST面积

SNUG 2018 2018 10 页

使用共享Wrapper减少MBIST面积

作者: Tuanhui Xu, Yunfeng Liu, 海思 HiSilicon, Shenzhen, China

摘要

随着电路复杂性的增加，芯片中存储器越来越多，MBIST 存储器内建自测试的面积也越来越大，而MBIST电路在DFT 可测试性设计电路中面积占比最大，导致芯片面积增加。特别是采用先进工艺的芯片，新的工艺引入了新的缺陷模型，MBIST必须支持算法可编程和诊断功能才能支撑芯片量产。本文主要介绍在先进工艺芯片设计中，在支持算法可编程和诊断的同时，采用SMS shared wrapper配置有效控制MBIST的面积。

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