嵌入式DRAM设计与使用ESP-CV的行为模型验证
SNUG India 2008
2008
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嵌入式DRAM设计与使用ESP-CV的行为模型验证
作者: Pradeep Singh, Senthil Kumar Raja (STMicroelectronics)
会议: SNUG India 2008
页数: 11
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嵌入式DRAM设计与使用ESP-CV的行为模型验证
Pradeep Singh, Senthil Kumar Raja STMicroelectronics SNUG India 2008
本文描述了eDRAM 嵌入式DRAM的设计流程，以及使用Synopsys ESP-CV（等价性检查工具）对eDRAM行为模型进行形式验证 Formal Verification的方法。涵盖eDRAM架构、行为模型开发以及通过ESP-CV对RTL设计与行为模型进行等价性检查 Equivalence Checking的验证策略。
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