DFT MAX用于混合信号设计：案例研究

DFT MAX用于混合信号设计：案例研究

作者: Cory Ellinger, RFMD, Greensboro, NC

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摘要

混合信号 Mixed-Signal SoC 系统级芯片设计中的测试仪时间传统上由RF和模拟测试主导。在这种环境中很少使用测试压缩工具。然而，混合信号测试仪的引脚存储器通常比纯数字测试仪小得多。这种减小的存储器大小，加上针对更小几何尺寸的先进测试故障模型、增加的数字内容以及持续存在的降低成本的市場压力，给DFT 可测试性设计工程师带来了沉重负担。扫描向量压缩是一种新颖的技术，通过减少测试数据量和测试施加时间，为添加额外的故障模型或内容提供了额外的"空间"。本文概述了Synopsys DFT MAX压缩解决方案在RFMD混合信号设计上的案例研究。结果表明使用该解决方案可以节省的测试仪时间，以及用户将该工具集成到设计流程中的经验。

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