使用VMM、DPI和Tcl利用验证来实现早期测试、仿真和验证

使用VMM、DPI和Tcl利用验证来实现早期测试、仿真和验证

作者: Samir Patel, LSI (Samir.Patel@lsi.com)

---

摘要

除了验证之外，ASIC 专用集成电路团队面临的一些挑战是设计集成和启动 -- 无论是在仿真中还是在实验室中、在仿真平台上，还是在硅验证期间。为了解决这些问题，我们使用SystemVerilog DPI 直接编程接口集成了一个Tcl 工具命令语言脚本解释器作为我们的VMM 验证方法学手册测试层。这使得设计师能够使用系统级验证环境编写定向测试来调试他们的设计。通过适当的TCL测试层规范，相同的定向测试可以在仿真中运行或直接在实验室的硬件上运行，以加速集成和测试。

---

1.0 引言 -- 为什么要这样做？

传统上，验证环境与实验室测试环境是分离的。验证工程师编写复杂的约束随机测试，而实验室工程师使用不同的工具和方法进行芯片验证。这种方法导致了工作的重复和知识传递的损失。

2.0 DUT

待测设计是一个复杂的网络处理ASIC。

3.0 实现

通过Tcl解释器集成： - 使用SystemVerilog DPI将Tcl解释器嵌入VCS仿真 - Tcl命令可以控制和查询DUT信号 - 在VMM框架内构建Tcl测试层 - 相同的Tcl脚本可在仿真和实验室硬件上运行

4.0 结果

该方法显著加速了设计调试和硅验证流程，减少了仿真和实验室测试之间的差距。

---

图片索引

本文共128张图片（技术论文+演示），存放于 _images/ 目录。