漏电功耗优化：一种改进的综合方法学

漏电功耗优化：一种改进的综合方法学

会议: SNUG San Jose 2009 作者: Sandip Patra, Broadcom Corporation, Irvine, USA 页数: 12

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摘要

随着工艺节点的不断缩小，泄漏功耗 Leakage Power在总功耗中的占比不断增大，已成为深亚微米设计中不可忽视的关键问题。传统的低功耗综合 Low Power Synthesis方法学在漏电功耗优化方面存在局限性，往往无法在满足时序和面积约束的前提下实现最优的漏电功耗降低。

本文提出了一种改进的综合方法学，通过在逻辑综合阶段系统化地应用多阈值电压 Multi-Vt优化和电源门控 Power Gating技术来实现更高效的漏电功耗优化。该方法学包括：(1) 动态功耗与漏电功耗的联合优化策略；(2) 多阈值电压单元分配的智能算法；(3) 在综合流程中嵌入时序感知的漏电功耗分析；(4) 层次化设计中漏电功耗优化的系统化方法。

本文在 Broadcom 的实际设计项目中验证了该方法的有效性，展示了与传统方法学相比的漏电功耗降低数据和时序/面积影响分析。

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