At-Speed测试
页
At-Speed测试
类型: 概念 | 引用论文数: 10
相关论文
- 小延迟缺陷 ATPG 的用户实践经验 - 自定义片上时钟控制器和扫描压缩插入的全层次化流程用于At-Speed测试 - 定制片上时钟控制器与扫描压缩插入的全层次化At-Speed测试流程 - 多时钟域跳变延迟故障ATPG测试：一种创新方法 - 使用DFT处理OCC片上时钟控制 - DFT MAX 扫描压缩流程经验 - 与设计同步的DFT：层次化扫描压缩 - 在高度受限环境中同时使用DFTMAX与异步和同步片上时钟控制器（OCC）的用户经验 - 使用 Synopsys OCC 进行标准单元和 IP 的可靠硅验证 - 扫描测试期间的电源完整性挑战 — 缓解电气挑战的案例研究