用 CCK 工具来提高 Flash IP 设计的可靠性

SNUG China 2017 2017 13 页

用 CCK 工具来提高 Flash IP 设计的可靠性

会议: SNUG China 2017 作者: 王韬, 倪昊, 中芯国际 (SMIC), 上海, 中国页数: 13

摘要

Flash IP 作为嵌入式非易失性存储器的关键组件，其可靠性直接影响到整个芯片的良率和寿命。由于 Flash 单元的工作机制涉及复杂的模拟行为和高电压操作，传统的数字验证方法难以全面覆盖 Flash IP 的可靠性验证需求。

本文介绍了中芯国际 SMIC设计团队使用 CCK 定制电路检查套件（CustomSim Circuit Check）仿真工具来提高 Flash IP 设计可靠性的方法。CCK 工具能够在设计的早期阶段对 Flash IP 的关键电路进行全面仿真和验证，包括读取/写入操作的正确性、高压应力条件、工艺变异影响（Monte Carlo 分析）等。

本文详细介绍了：(1) Flash IP 可靠性仿真的方法论和流程；(2) CCK 工具在 Flash IP 验证中的应用技术；(3) 针对典型失效模式（如读取干扰、数据保持、耐久性等）的仿真策略；(4) 与传统仿真工具对比的结果数据。

图片索引

共 10 张图片，存放于 _images/ 目录。涵盖 CCK 仿真流程图、Flash IP 电路结构、可靠性仿真波形及分析结果等内容。