测试分级机制在全系统测试中的应用

测试分级机制在全系统测试中的应用

会议: SNUG Taiwan 2019 作者: Ming-Lung Tsai (MediaTek), Alvin Chen (Synopsys) 页数: 12 源文件: SNUG_TW_Grading_Test_Grading_Mechanism_Applied_to_Entire_System_Test_paper.pdf

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测试分级机制在全系统测试中的应用

Ming-Lung Tsai, Alvin Chen MediaTek Inc., Synopsys Inc. 台湾新竹科学园区

摘要

测试分级机制 TGM（Test Grading Mechanism）为设计验证工程师提供了一种审查测试用例质量的方法，以最优优先顺序排列测试用例。它不仅可以应用于消除测试套件中的冗余测试用例，还可以节省整个系统回归测试 Regression Test套件的编译时间或仿真时间。它使用各种覆盖率指标作为排序依据，这些指标包括行覆盖率、FSM覆盖率、条件覆盖率、分支覆盖率、翻转覆盖率，以及断言和覆盖组。此外，TGM可以在基于成本的不同视图中将测试用例最优-优先排序，这些基于成本的因素包括CPU时间等。

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（全文涵盖：TGM方法论详述、覆盖率指标定义、成本权重模型、在MediaTek全系统回归测试中的部署案例、编译/仿真时间节省结果等。共9张图片）

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图片索引

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