SpyGlass DFT ADV早期可测试性分析与物理感知测试点插入——优化ATPG结果
SNUG 2018 (专题4@Spyglass)
2018
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SpyGlass DFT ADV早期可测试性分析与物理感知测试点插入——优化ATPG结果
会议: SNUG 2018 (专题4@Spyglass)
作者: Brad MacMonagle (Synopsys)
日期: 2018年10月23日
页数: 26
源文件: SNUG_TPC_Spyglass_Gobok_Untitled_paper.pdf
概述
ATPG 自动测试向量生成的测试覆盖率很大程度上取决于设计的可测试性。传统的测试点 Test Point插入在 DFT 流程后期进行，可能影响时序收敛和布局布线。
本文介绍了使用 SpyGlass DFT ADV 进行早期可测试性分析的方法，结合物理感知测试点插入技术： - 在 RTL/综合前阶段识别可测试性问题 - 物理感知测试点选择考虑布局资源和时序影响 - 与 Synopsys TestMAX ATPG 工具集成，优化测试覆盖率 - 减少后期 DFT ECO 迭代
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