在高度约束环境中使用DFTMAX与异步和同步片上时钟控制器（OCC）：用户体验
SNUG 2016
2016
20 页
高度约束环境中使用DFTMAX与异步/同步OCC的用户体验
作者: Maxime Peycelon (Thales Communications & Security, France); Philippe Rossant (Synopsys France)
摘要
即使在引脚受限的设计中，使用扫描压缩 Scan Compression也可能是必需的。此外，在65nm及以下技术中，高速测试 At-Speed Test今天已是强制性的，以确保所需的测试结果质量（TQR）。在本文中，我们将描述在一个面向高保障应用的复杂SoC 系统级芯片上，使用DFTMAX自适应扫描压缩实现异步和同步片上时钟控制器 OCC（OCCs）的流程。我们提供了用于在我们自己的设计流程中实现这两种众所周知的DFT 可测试性设计技术的方法学的详细概述，并展示了在我们当前开发的高度约束电路中遇到的多种挑战，以及这些困难是如何被克服的。
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