按时达成测试质量和成本目标

按时达成测试质量和成本目标

会议: SNUG 2015 作者: Adam Cron, Principal Engineer, Synopsys 页数: 104

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摘要

在当今的半导体行业中，在保证高水平测试质量 Test Quality（超低 DPPM 缺陷百万分率）的同时控制测试成本 Test Cost，并且在紧凑的项目进度内完成 DFT 实现，是每个芯片设计团队面临的核心挑战。对于汽车、工业和消费电子等不同市场，测试质量和成本的目标各不相同。

本演讲由 Synopsys 资深工程师 Adam Cron 主讲，全面介绍了 Synopsys 的 DFT 解决方案套件如何帮助设计团队按时达成测试质量和成本目标。涵盖的关键主题包括：

- 多种ATPG 自动测试向量生成故障模型（Stuck-at, Transition, IDDQ, Cell-Aware, Slack-Based）的协同使用 - DFTMAX 扫描压缩技术以减少测试数据量和测试时间 - BIST 内建自测试（逻辑 BIST 和存储器 BIST）在系统内测试中的应用 - SpyGlass DFT 在 RTL 阶段的早期可测试性分析 - Yield Explorer 良率学习平台 - 测试时间、测试覆盖率和 DPPM 之间的系统级权衡分析

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图片索引

共 1089 张图片（大规模 PPT 幻灯片集），存放于 _images/ 目录。涵盖 Synopsys DFT 全系列工具链、故障模型详解、测试压缩架构、BIST 流程、良率分析框架及大量案例分析数据图表。