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LBIST 逻辑内建自测试
类型:
concepts
引用论文:
8 篇
在复杂 VLSI 上使用 Synopsys Galaxy 流程进行可测试性设计插入
面向汽车设计可测试性改进的测试点插入案例研究
测试点插入改善汽车设计可测试性案例研究
在RTL签核中改善SoC可测试性和ATPG效率
面向小型核心的轻量级LBIST实现方法学
面向小型核心的轻量级LBIST实现方法学——DFTMAX LogicBIST/SpyGlass DFT ADV/TetraMAX II ADV
在高度受限环境中同时使用DFTMAX与异步和同步片上时钟控制器（OCC）的用户经验
左移TestMAX流程和X容忍逻辑BIST方案用于汽车IC
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