☰
锁相环 PLL
类型:
concepts
引用论文:
5 篇
使用片上PLL优化跳变故障测试向量生成及其对压缩技术的影响
定制片上时钟控制器与扫描压缩插入的全层次化At-Speed测试流程
多时钟域跳变延迟故障ATPG测试:一种创新方法
HSIM电迁移分析在Rambus高速FlexIO接口单元中的集成流程
与设计同步的DFT:层次化扫描压缩
↑