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扫描测试 Scan Test
类型:
concepts
引用论文:
4 篇
应用 DFT Compiler 核心封装技术控制数模接口
扫描测试期间的电源完整性挑战 — 缓解电气挑战的案例研究
共享IO编解码器：在有限扫描可访问性下实现最高芯片级测试覆盖率
在复杂 ASIC 上使用 DFTMAX Shared IO 的用户经验
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