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跳变故障 Transition Fault
类型:
concepts
引用论文:
8 篇
复杂 SoC 上的小延迟缺陷实验
实现测试时间与测试质量平衡的集成流程
面向百万门级设计的多压缩器实现方案
使用 SpyGlass 进行早期 RTL 可测试性与 ATPG 覆盖率分析:案例研究
使用SpyGlass DFT ADV在RTL签核阶段改善DFT实现
SpyGlass DFT ADV概述——RTL测试Signoff
在高度受限环境中同时使用DFTMAX与异步和同步片上时钟控制器(OCC)的用户经验
早期验证——TestMAX DFT左移加速结果达成时间
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