大型芯片的Memory BIST与修复方案
SNUG China 2022
2022
15 页
大型芯片的Memory BIST与修复方案
作者: YanLong Niu
会议: SNUG China 2022
页数: 15
源文件: SNUG_CN_Wang_YanLong_Niu_202298_Memory_BistandRepair_Solution_for_Large_paper.pdf
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大型芯片的Memory BIST与修复方案
YanLong Niu 2022-9-8
本文为PPT格式，共15页、46张图片。核心内容为大型芯片中MBIST 存储器内建自测试与存储器修复 Memory Repair的综合解决方案，涵盖BISR 内建自修复技术、冗余修复 Redundancy Repair策略以及在大型SoC 系统级芯片设计中的应用。
图片索引
本文共 46 张图片，存放于 SNUG_CN_Wang_YanLong_Niu_202298_Memory_BistandRepair_Solution_for_Large_paper_images/ 目录。