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引用论文: 6 篇
多时钟域跳变延迟故障ATPG测试：一种创新方法
45nm设计中的噪声建模
使用NanoTime进行结构化ASIC宏单元时序模型特征化
使用NanoTime分析数字存储接口逻辑
使用Star-RCXT寄生提取和HSIM实现更高的仿真生产力和精度
高速收发器混合模式验证：HSIM-VCS 协同仿真