自动测试设备 ATE

类型: concepts

引用论文: 6 篇

定制片上时钟控制器与扫描压缩插入的全层次化At-Speed测试流程

DFT MAX扫描压缩流程实践经验

与设计同步的DFT：层次化扫描压缩

混合信号设计中碎片化数字模块的DFT方案

在高度受限环境中同时使用DFTMAX与异步和同步片上时钟控制器（OCC）的用户经验

实现DFT仿真10倍性能提升