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故障模型 Fault Model
类型:
concepts
引用论文:
3 篇
DFTCMax模块化实现:确保低面积开销与高测试质量
一种高效的外部Memory Die的测试方案,以及基于HPC芯片应用的案例分析
使用 Synopsys 推荐的 ATPG 流程实现高测试质量
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