从早期RTL分析到更快速高效的ATPG:管理测试成本

SNUG 2018 2018 33 页

从早期RTL分析到更快速高效的ATPG:管理测试成本

作者: Don Skinner (Synopsys) 会议: SNUG 2018 页数: 33 源文件: SNUG_TPC_Spyglass_Dorso_Untitled_paper_2.pdf


Page 1

Figure

管理测试成本:从早期RTL分析到更快速高效的ATPG

Don Skinner Synopsys SNUG 2018


本文为PPT格式,共33页、259张图片。核心内容为Synopsys提出的通过早期RTL 寄存器传输级分析、SpyGlass DFT检查以及更高效的ATPG 自动测试向量生成流程(TestMAX/TetraMAX)来管理DFT 可测试性设计测试成本的方法学。


图片索引

本文共 259 张图片,存放于 SNUG_TPC_Spyglass_Dorso_Untitled_paper_2_images/ 目录。