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MBIST 存储器内建自测试
类型:
concepts
引用论文:
5 篇
在复杂 VLSI 上使用 Synopsys Galaxy 流程进行可测试性设计插入
使用共享Wrapper减少MBIST面积
大型芯片的Memory BIST与修复方案
以前所未有的速度实现测试质量和成本目标 -- Synopsys测试自动化工具
使用共享Wrapper减少MBIST面积
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