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类型:
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引用论文:
11 篇
随机化测试平台开发——USB案例研究
桥接硅前与硅后验证差距 —— Vera 在交换 ASIC 验证中的硅后实现
漏电功耗优化：一种改进的综合方法学
使用Design Compiler Graphical进行拥塞预测与缓解
在RTL签核中改善SoC可测试性和ATPG效率
将SoC可测试性改进作为RTL签核的一部分
使用SpyGlass DFT ADV在RTL签核阶段改善DFT实现
实现DFT仿真10倍性能提升
使用VCS细粒度并行实现DFT仿真10倍性能提升
2.1GHz ARM Cortex-A55功耗约束存储SoC的实现流程
2.1GHz ARM Cortex-A55 实现流程：面向功耗受限的存储 SoC
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