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At-Speed测试
类型:
concepts
引用论文:
10 篇
小延迟缺陷 ATPG 的用户实践经验
自定义片上时钟控制器和扫描压缩插入的全层次化流程用于At-Speed测试
定制片上时钟控制器与扫描压缩插入的全层次化At-Speed测试流程
多时钟域跳变延迟故障ATPG测试：一种创新方法
使用DFT处理OCC片上时钟控制
DFT MAX 扫描压缩流程经验
与设计同步的DFT：层次化扫描压缩
在高度受限环境中同时使用DFTMAX与异步和同步片上时钟控制器（OCC）的用户经验
使用 Synopsys OCC 进行标准单元和 IP 的可靠硅验证
扫描测试期间的电源完整性挑战 — 缓解电气挑战的案例研究
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