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STMicroelectronics
类型:
companies
引用论文:
16 篇
XA在定制功率MOSFET分析流程中的集成
使用UPF的低功耗实现流程
自定义片上时钟控制器和扫描压缩插入的全层次化流程用于At-Speed测试
基于RTL仿真的PrimeTime-PX门级功耗估算
定制片上时钟控制器与扫描压缩插入的全层次化At-Speed测试流程
STMicroelectronics MiniChip物理设计
低功耗设计中的低功耗DFT
嵌入式DRAM设计与使用ESP-CV的行为模型验证
使用ASIP Designer的高效双核锁步处理器设计：ST STxP5案例研究
早期数字设计失效率估算工具链与工作负载老化时序分析
基于Spyglass的DFT检查
使用 Synopsys OCC 进行标准单元和 IP 的可靠硅验证
微控制器设计中从DFTMax到DFTMax Ultra的迁移
加速DFT开发的运行时缩减策略
DFTMAX-Ultra在超低引脚数设计中实现高测试覆盖率——嵌入测试模式控制器
DFTMAX Ultra为嵌入测试模式控制器的超低引脚数设计实现高测试覆盖率
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